MMH-1607

Hamlet MH-1607 工業用專業級金相顯微鏡

MMH-1607工業金相顯微鏡是針對半導體工業、矽片製造業、電子資訊產業、冶金工業需求而開發的。作為高級金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其超強性能,可廣泛應用於半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測,可觀察較厚的標本。穩定、高品質的光學系統使成像更清晰,襯度更好。符合人機工程學要求的設計,使您在工作中感到舒適和放鬆。

NT.138000

已售完


詳細介紹

 

                       技術規格               

 

  30°鉸鏈式三目(50mm-75mm

 

   

  WF10×/25mm

 

  WF10×/20mm,0.1mm十字分劃板

 

   

  平場無限遠長工作 距離明暗場物鏡:5×/0.1B.D/W.D.29.4mm

  10×/0.25B.D/W.D.16mm 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm

  40×/0.60B.D/W.D.5.4mm

 

  DIC插孔五孔轉換器

 

   

  雙層移動平臺

 

  平臺尺寸: 190mm×140mm

 

  移動範圍:50mm×40mm

 

  插板式濾色片(綠、藍、中性)

 

調   

  粗、微動同軸調焦,採用齒輪齒條傳動機構 微動格值0.002mm

 

   

  帶孔徑光欄和視場光欄,鹵素燈12V/50W, AC85V-230V,亮度可調節

 

偏光裝置

  檢偏鏡可360度轉動,起偏鏡、 檢偏鏡均可移出光路

 

檢測工具

  0.01mm測量尺

 

 

 

特點說明

1  UIS無限遠光學系統。

2  採用長壽命鹵素燈光源的,光效率更高。

3  明暗場、偏光、微分干涉功能。

4  採用非球面Kohler照明,增加觀察亮度。

5  WF10×Φ25)超大視野目鏡、長工作距離明暗場金相物鏡。

6  可插DIC微分干涉裝置的五孔轉換器。(需另外選購)

 DIC:用諾曼斯基微分干涉襯比法觀察,現己被認為檢驗材料、金屬和半導體結構不可缺少的手段


留言板

COMMENTS 0
留言請先登入會員